LANGER ICテストセット|株式会社テクノサイエンスジャパン

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LANGER製 IC テストセット

imageパルス磁場を用いたICの選択的イミュニティ試験


ICテストセットは高速過渡パルスを磁場を介してICに印加します。
これにより、ICの個々の領域の耐性をテストすることができます。
サイドチャネル攻撃をシミュレートし、セキュリティに重要な回路をテストすることができます。
特長として、非常に高分解能の500μmプローブチップ(非常に小さい領域のテストを可能)と非常に低いトリガーパルスジッタを持ちます。

スペック
発生磁束密度 約50mT
最大電圧 500V
プローブ ヘッド寸法 500μm
パルス ライズタイム < 2ns
パルス繰り返し周波数 最大 20kHz
トリガパルス遅延 100 ns〜450 ns
トリガパルス遅延ジッタ- +1ns
電圧供給 LANGER BPS202による 製品ページ
サイズ (26 x 43 x 35) mm
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