KEC法シールド特性測定システム|その他自動測定システム|システム紹介|株式会社テクノサイエンスジャパン

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一般電子機器

KEC法シールド特性測定

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【概要】

KEC法に適合したシールド材の近傍電界・近傍磁界シールド特性評価システム。

近傍磁界、近傍電界に対するシールド効果を自動測定。専用のソフトウェアTEPTO-SESにより、 信号発生器、スペクトラムアナライザを自動制御。100k-1000MHzまでの広帯域をカバー・80dB以上の広いダイナミックレンジ(10-1000MHz)。

ソフトウェアTEPTO-SESは、キャリブレーション測定及びシールド評価結果の保存、印刷・グラフやリストをコピー、貼り付けすることができます。 周波数範囲のレンジ分割(最大5レンジ)及びバンド幅・の任意設定。プリアンプゲイン、ロス等のファクタ管理。コメント、ヘッダー、フッターの任意設定が可能です。

充実したハードウェアサポートにより、既存ハードウェアを活用したシステムアップやグレードアップも承ります。 システム販売はもとより、ソフトウェアのみの販売もございます。 

【対応規格】

KEC法

【システム構成例】

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校正治具
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ソフトウェア
TEPTO-SES

【供試体】

出力インピーダンス 50Ω
供試体の大きさ 5(H)x200(W)x200(D)以下
寸法 500(H)×350(W)×350(D)mm以下
重量 測定台:10kg以下、電界測定プレート:12kg以下、磁界測定プレート:15kg以下
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