KEC法シールド特性測定システム

概要

KEC法に適合したシールド材の近傍電界・近傍磁界シールド特性評価システム。

近傍磁界、近傍電界に対するシールド効果を自動測定。専用のソフトウェアTEPTO-SESにより、 信号発生器、スペクトラムアナライザを自動制御。100k-1000MHzまでの広帯域をカバー・80dB以上の広いダイナミックレンジ(10-1000MHz)。

ソフトウェアTEPTO-SESは、キャリブレーション測定及びシールド評価結果の保存、印刷・グラフやリストをコピー、貼り付けすることができます。 周波数範囲のレンジ分割(最大5レンジ)及びバンド幅・の任意設定。プリアンプゲイン、ロス等のファクタ管理。コメント、ヘッダー、フッターの任意設定が可能です。

充実したハードウェアサポートにより、既存ハードウェアを活用したシステムアップやグレードアップも承ります。 システム販売はもとより、ソフトウェアのみの販売もございます。 

対応規格

KEC法

システム構成例

関連製品

EMIレシーバ ESR(R&S)

受信アンテナ

ソフトウェアTEPTO-DV/RE

供試体

出力インピーダンス50Ω
供試体の大きさ5(H)x200(W)x200(D)以下
寸法500(H)×350(W)×350(D)mm以下
重量測定台:10kg以下、電界測定プレート:12kg以下、磁界測定プレート:15kg以下

お問い合わせ

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